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產品詳情
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  • 產品名稱：雙波段發(fā)射率測試儀/遠紅外線測試儀/發(fā)射率測試儀

  • 產品型號：SHIR-2
  • 產品廠商：同德
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簡單介紹：
雙波段發(fā)射率測試儀/遠紅外線測試儀/發(fā)射率測試儀 雙波段發(fā)射率測試儀 、遠紅外線測試儀采用反射率法的測試原理，即通過采用主動黑體輻射源測定待測物表面的法向反射率，進而測出其在特定紅外波段的法向發(fā)射率
詳情介紹：
雙波段發(fā)射率測試儀/遠紅外線測試儀/發(fā)射率測試儀
雙波段發(fā)射率測試儀 、遠紅外線測試儀采用反射率法的測試原理，即通過采用主動黑體輻射源測定待測物表面的法向反射率，進 而測出其在特定紅外波段的法向發(fā)射率。該儀器可測量常溫樣品在3～5um、8～14um、1～22um三個波段發(fā)射率。對特殊需要的用戶，通過專用的控溫 加熱裝置，在常溫至300℃溫度范圍加熱樣品，進行發(fā)射率變溫測量。該儀器主要用于**裝備的紅外隱身、紅外烘烤、建材、紙張、紡織等行業(yè)對材料紅外輻射 特性的測量研究。目前已在西北核技術所，東南大學等單位使用。
儀器特點：
1．儀器中有小型標準黑體輻射源，采用六位高精度微機控溫儀(能顯示到1mk)，使儀器不僅具有穩(wěn)定的寬光譜測量范圍，而且極大地提高了儀器在測量時的可靠性和穩(wěn)定性。
2．采用了獨特的光學調制技術，使測量不受被測物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。
3．在儀器設計中，考慮到樣品漫反射引起的測量誤差，除鏡反射(MR)探測通道外，還增設了專門的漫反射(DR)補償通道，從而確保了儀器的測量精度。
4．在信號及電子學處理技術上采用鎖相技術和微電子技術，較好地實現(xiàn)了對微弱信號的探測，進一步提高了儀器性能。
5．本儀器操作簡單、使用方便、測量快速。
6．可按需更換濾光片，在多個紅外光譜波段內進行測試。
7．在測量過程中不損傷被測樣品。
8．本儀器帶RS-232串口及復位鍵RST。
主要技術指標 
1．測量波段：3～5um、8～14um、1～22um  
(若用戶有特殊要求，可定制不同波段濾光片)
2．發(fā)射率測量范圍：0.1～0.99
3．靈敏度NE△ε：0.001
4．示值誤差：±0.02 (ε>0.50)
5．重復性：±0.01
6．樣品溫度：常溫(特殊用戶為常溫～300℃)
7．樣品尺寸：>Ф50
8．測量時間：3秒后按測量鍵E，即顯示ε測量值。
9．顯示方法：LED數(shù)字顯示，末位0.001
10.電   源：  交流220V   50HZ
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